В НовГУ разработали ПО на основе нейросетей для автоматического обнаружения внешних дефектов монолитных интегральных схем. Система ускоряет процесс контроля качества, снижает затраты на производство и не имеет прямых аналогов на российском рынке.
В Новгородском университете разработали программное обеспечение для автоматического распознавания внешних дефектов монолитных интегральных схем. Эти дефекты, такие как царапины, частицы пыли или нарушения металлизации, часто незаметны без микроскопа, но приводят к сбоям в работе микросхем. Ручной контроль сотен схем на одной пластине — медленный и дорогостоящий процесс, что напрямую влияет на конечную стоимость изделий.
Новая система использует нейросетевые алгоритмы для автоматизации этого процесса. Одна модель нейросети обнаруживает дефекты, а другая — распознает их, сверяя с базой данных. На основе формируемого аналитического отчета оператор принимает решение о браковке изделия. Это частично автоматизирует монотонный процесс, повышает объемы производства и позволяет перераспределить труд специалистов на более важные задачи.
По словам разработчиков, на рынке существуют аналогичные решения для обнаружения дефектов в других отраслях, например, в металлургии или нефтехимии. Однако данная разработка является единственным на российском рынке решением, специализированным именно для внешней дефектоскопии в микроэлектронике. Софт легко адаптируется под задачи пользователей, и его могут настраивать даже люди без глубоких знаний в программировании. Кроме того, это полностью отечественная разработка, что соответствует политике импортозамещения.
В настоящее время бета-версия продукта тестируется на одном из научно-производственных предприятий региона. После доработки по результатам испытаний программное обеспечение будет передано заводу. В дальнейших планах разработчиков — расширить функционал системы для обнаружения как внешних, так и внутренних дефектов микросхем.