В России впервые создан лазерный комплекс для тестирования защищенности микрочипов. Разработкой занимался исследовательский центр Positive Labs, входящий в структуру компании Positive Technologies. Устройство получило название LFI-26.
До 2022 года российские компании приобретали аналогичное оборудование у французских и нидерландских производителей, а на территории страны такие установки ранее не выпускались.
Комплекс LFI-26 представляет собой универсальное решение для анализа и проверки безопасности чипов. С его помощью специалисты могут проверять микроэлектронику, которая используется в банкоматах, платежных картах, устройствах интернета вещей, автомобильных блоках управления, а также в орбитальных спутниках.
Принцип работы установки заключается во внесении управляемых сбоев в работу чипа с помощью лазерного излучения. Точность воздействия достигает микросекунд. В ходе таких тестов исследователь может выявить уязвимости, которые потенциально позволяют получить контроль над устройством или хранящимися на нем данными. Обнаружение подобных слабых мест необходимо для последующего проектирования более надежных систем защиты.
По словам руководителя R&D-центра Positive Labs, разработка собственного лазерного комплекса стала необходимым шагом для сохранения компетенций в области аппаратной безопасности после ухода западных вендоров с российского рынка. Без такого оборудования, как отмечается, становится затруднительным полноценный анализ безопасности как зарубежных, так и отечественных чипов.
Новый комплекс LFI-26 входит в линейку устройств для исследования безопасности микроэлектроники, которая также включает установки для электромагнитной инжекции неисправностей и анализа побочных электромагнитных излучений. Разработчики заявляют, что появление LFI-26 позволяет российской лаборатории работать на уровне ведущих мировых центров в области аппаратной безопасности.